Das bekannte DAISI-MT Interferometer wurde weiterentwickelt, damit auch freistehende Fasern im SMA-Stecker analysiert werden können: So kann die Oberflächenbeschaffenheit nach der Politur beurteilt werden.
Um die komplette Fläche eines SMA-Steckers abbilden zu können, ist das zu untersuchende Sichtfeld etwa 3 mm. Auch ein eventueller Überstand und/oder eine Exzentrizität der Faser kann ermittelt und optimiert werden.