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Interferometer für freistehende Fasern im SMA-Stecker

Das bekannte DAISI-MT Interferometer wurde weiterentwickelt, damit auch freistehende Fasern im SMA-Stecker analysiert werden können: So kann die Oberflächenbeschaffenheit nach der Politur beurteilt werden.

Um die komplette Fläche eines SMA-Steckers abbilden zu können, ist das zu untersuchende Sichtfeld etwa 3 mm. Auch ein eventueller Überstand und/oder eine Exzentrizität der Faser kann ermittelt und optimiert werden.

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