OFDR zur hochauflösenden IL/RL-Bestimmung

Hochpräzise OFDR-Messung

Der Luna 6415 Lightwave Component Analyzer hilft, den Designzyklus von photonischen integrierten Schaltungen (PICs), Silizium-Photonik und Glasfasertechnologie zu verkürzen und den Fertigungsdurchsatz zu erhöhen. Das hochsensible Messgerät vereint hohe Messgeschwindigkeit, Genauigkeit und zusätzliche Testabdeckung in einem einzigen integrierten System. Mit der optischen Frequenzbereichsreflektometrie (OFDR), werden Einfügedämpfung (IL) und Rückflussdämpfung (RL) sowohl im Spektralbereich als auch im Zeit- oder Längenbereich gemessen. Das Gerät kann wahlweise im Reflexions- oder Transmissionsmodus betrieben werden und erreicht dabei eine Auflösung von 0,1 dB.

Das Luna 6415 kann Reflexionsereignisse mit einer räumlichen Auflösung von 20 µm messen und genau lokalisieren und Pfadlängen bis zu 100 m messen. Der Transmissionsmodus wird für RL-Messungen mit bestem Dynamikbereich verwendet. Dabei ist das Luna 6415 nicht nur besonders vielseitig, sondern auch schnell: Bei einer Messlänge von 20 m (in Reflexion) liegt das Ergebnis typisch bereits nach 0,08 Sekunden vor.