MAP Spektral-Messgeräte

Spektralmessgeräte für das MAP System: "Swept Wavelength" Testsystem, durchstimmbare Filter, Multi-Wellenlängen-Detektor, OSA

Für die Spektralmessung gibt es eine Reihe von Messgeräten: eigenständige Systeme und Module für die MAP-Plattform.

  • Swept Wavelength Test System
    Testsystem für die Fertigung und Entwicklung passiver DWDM-Komponenten, ROADMs und Circuit Packs zur vollständigen Bestimmung der wellenlängenabhängigen Eigenschaften passiver optischer Komponenten.
  • Multiwellenlängen-Detektor mWave und Hi-Resolution OSA mHROSA
    In nur einem MAP-Modul kombiniert sind der Multi-Wellenlängen-Detektor und der hoch auflösende optische Spektrumanalysator mit spektraler sub-GHz Auflösung.

Wellenlängen-Abhängigkeit passiver optischer Komponenten messen - SWS System

Für die Messung der Wellenlängen-Abhängigkeit passiver optischer Elemente mit dem MAP-System gibt es das Modul SWS - swept wavelength system. Es wird für die spektrale Vermessung optischer DWDM-Komponenten verwendet, also für ROADMs, wellenlängenselektive optische Schalter, durchstimmbare Filter oder optische Circuit Packs. Das SWS-System besteht aus 

  • durchstimmbarem Laser
  • optischen Quellen - source optical module SOM
  • Receiver-Chassis
  • Control Modul
  • Detektor-Modul
  • Anwendungs-Software

Gemessen werden damit:

  • Einfügedämpfung - IL
  • Rückflussdämpfung - RL
  • polarisationsabhängige Dämpfung - PDL
  • Direktivität

Eigenschaften des SWS Systems

  • Bis zu 8 Messstationen können an einer Basis betrieben werden
  • absolute Wellenlängengenauigkeit ± 0,002 nm
  • Bis zu 256 Detektoren pro Empfängerstation
  • Scangeschwindigkeit bis zu 40 nm/s
  • DLLs für kundenspezifische Applikationen

Multiwellenlängen-Detektor mWave und Hi-Resolution OSA mHROSA

Multiwavelength Meter mWAVE

Das Messprinzip des Multiwellenlängen-Frequenzmessgeräts mWAVE basiert auf der kohärenten Detektionstechnik. Unerreicht ist die Frequenzauflösung für die Bestimmung des optischen Leistungspegels; ebenfalls hervorzuheben ist die Detektion der Mittenwellenlängen dicht gepackter optischer Signale mit einem Abstand von nur 2 GHz.

  • Messbereich
    erweitertes C-Band: 196,4 - 191,1 THz
    entspricht 1526,44 - 1568,77 nm

 

High-Resolution OSA - mHROSA

Eine sub-GHz Auflösung garantiert der optische Spektrumanalysator mHROSA: er vereint den Multi-Wellenlängen-Frequenzmesser WAVE mit einem hoch auflösenden optischen Spektrum-Analysator (OSA) in nur einem Modul mit einfacher Breite.

Typische Anwendungen sind die Charakterisierung von DWDM Übertragungssystemen, optischer Quellen, Transpondern und LineCards. Insbesondere sind die mHROSA geeignet, Komponenten für 10/40/100/400 G Anwendungen zu charakterisieren.

Eigenschaften

  • sub-GHz Wellenlängen-Auflösung
  • Messbereich:
    erweitertes C-Band: 196,4 - 191,1 THz
    entspricht 1526,44 - 1568,77 nm
  • Messung von Frequenz, optischem Leistungspegel und OSNR
  • Bestimmung der Seitenmoden-Unterdrückung optischer Laserquellen

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