Auf 20 µm genau – Fehlerortung durch OFDR
Das hochauflösende Frequenzbereichsreflektometer (OFDR) LUNA 6415 charakterisiert Störungen in passiven faseroptischen Komponenten und kann sie bis auf 20 µm genau lokalisieren. Dabei sind Emitter und Sensor zur Messung der Einfüge- und/oder Rückflussdämpfung im selben System untergebracht. Mit einer Auflösung von 0,1 dB werden auch die kleinsten Unregelmäßigkeiten entdeckt – und das in gerade einmal 160 ms für einen typischen Messzyklus.
Eine derartig exakte Fehlerortung spielt eine wichtige Rolle bei der Qualitätssicherung von integrierten optischen Schaltungen (Photonic Integrated Circuits - PICs): Im Zuge der fortschreitenden Miniaturisierung enthalten solche Schaltungen oft eine große Zahl von passiven optischen Komponenten wie Wellenleitern, Splittern oder Multiplexern. Bisher war es nur möglich, die gesamte PIC auf ihre Funktion zu testen. Mit dem LUNA 6415 lässt sich jetzt genau zurückverfolgen, welche der verbauten Komponenten den Fehler verursacht.
LASER COMPONENTS vertreibt das LUNA 6415 auf dem deutschen Markt.
Das Unternehmen
LASER COMPONENTS
